| 企业等级： | 普通会员 |
| 经营模式： | 生产加工 |
| 所在地区： | 浙江 台州 |
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发布时间：2021-11-08 18:19:00 作者：满溢光学
牛津仪器工业分析部（Oxford Instruments IndustrialAnalysis）牛津仪器工业分析部提供多系列分析工具满足各个行业严格的质量控制要求。凭借30多年的XRF技术经验，牛津仪器的分析系统可以实现各种材料（固体、液体、粉末、糊状物、油脂、薄膜等）中元素组成的快速、无损检测，同时也可实现样品表面涂镀层厚度或组成分析。X-MET手持式XRF分析仪和移动式直读光谱仪OES是对现场合金分类及PMI测试、ROHS中有害元素的检测、质量控制尤为重要的工具。另外，手持式分析仪一般应用于检测元素，需要做放样检测，所以，技术人员还需要做好防辐射。我们的OES设备包括：ARC-MET、FOUNDRY-MASTER、FOUNDRY-MASTER COMPACT、PMI-MASTER PRO、PMI-MASTER SORT、TESTMASTER。Lab-X、Twin-X、ED2000及MDX1000各种XRF光谱仪应用于各种不同领域产品的日常分析，如石油产品的硫含量的分析、水泥中钙含量的分析。我们能提供多款***的光谱仪供您选择以满足您的分析需求。
火花台：火花台内部体积进一步缩小，优化气流向设计使得气消耗更低，同时有效移除残留粉尘。尾气经两级过滤系统排出。火花台工作维护量极低。压杆可以左右移动，接驳安全电路。可以快速更换样品。
适用分析大尺寸异型样品。特殊设计的样品夹可用于分析棒材、线材和薄片。小样品分析程序提高了 分析精度和准确性。
基于用户的分析需求，仪器可以定制成十种标准基体的任意组合。
直读光谱仪可用于铸造、锻造、机械配件、装备制造、质检、高校教学培训等领域。
在直读光谱仪分析过程中，采用高稳定的激发光源,激发频率在150—500Hz之间变化,分析不同的样品,可选择不同的激发参数,可达到佳的分析效果。
直读光谱仪中有关第三元素影响的问题
谱线干扰:由于试样组分复杂，所选元素的分析线直接受试样中其它组分发射谱线的影响，这种影响又称为光谱干扰。基体。简单的说，样品中除了少量存在的待测物之外，还有大量的其他物质，这就是基体。如制样不确，样品前处理不符合要求，控样和待测试样存在制样偏差，选择了错误的分析程序等。基体效应。实验证明，当被测元素的浓度一定时，分析元素谱线的绝强度及相对强度值不仅决定于蒸发、激发等摄谱条件，而且与试样总组成有关。试样总组成对谱线强度的影响称为第三元素的影响。第三元素是指除了内标和分析元素以外而存在于试样中的元素，这种影响有时称为基体效应。 次数用完API KEY 超过次数限制
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